星坤輕觸開(kāi)關(guān) TC-1101V-C-A-B-星坤電子

連接器測(cè)試一般涉及以下幾個(gè)項(xiàng)目：

插拔力測(cè)試、耐久性測(cè)試、 絕緣電阻測(cè)試、耐電壓測(cè)試、振動(dòng)測(cè)試、機(jī)械沖擊測(cè)試、冷熱沖擊測(cè)試、混合氣體腐蝕測(cè)試等

連接器具體測(cè)試項(xiàng)目如下：

（一）插拔力測(cè)試

參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-13

目的：驗(yàn)證連接器的插拔力是否符合產(chǎn)品規(guī)格要求

原理：將連接器按規(guī)定速率進(jìn)行完全插合或拔出，記錄相應(yīng)的力值

（二）耐久性測(cè)試

參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-09

目的：評(píng)估反復(fù)插拔對(duì)連接器的影響，模擬實(shí)際使用中連接器的插拔狀況

原理：按照規(guī)定速率連續(xù)插拔連接器直至達(dá)到規(guī)定次數(shù)。

（三）絕緣電阻測(cè)試

參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-21

目的：驗(yàn)證連接器的絕緣性能是否符合電路設(shè)計(jì)的要求或經(jīng)受高溫，潮濕等環(huán)境應(yīng)力時(shí)，其阻值是否符合有關(guān)技術(shù)條件的規(guī)定。

原理：在連接器的絕緣部分施加電壓，從而使絕緣部分的表面或內(nèi)部產(chǎn)生漏電流而呈現(xiàn)出來(lái)的電阻值。

（四）耐電壓測(cè)試

參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-20

目的：驗(yàn)證連接器在額定電壓下是否能安全工作，能否耐受過(guò)電位的能力，從而評(píng)定連接器絕緣材料或絕緣間隙是否合適原理：在連接器接觸件與接觸件之間，接觸件與外殼之間施加規(guī)定電壓并保持規(guī)定時(shí)間，觀察樣品是否有擊穿或放電現(xiàn)象。

（五）接觸電阻測(cè)試

參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-06/EIA-364-23

目的：驗(yàn)證電流流經(jīng)接觸件的接觸表面時(shí)產(chǎn)生的電阻值原理：通過(guò)對(duì)連接器通規(guī)定電流，測(cè)量連接器兩端電壓降從而得出電阻值

（六）振動(dòng)測(cè)試：

參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-28

目的：驗(yàn)證振動(dòng)對(duì)電連接器及其組件性能的影響

振動(dòng)類(lèi)型：隨機(jī)振動(dòng)，正弦振動(dòng)

（七）機(jī)械沖擊測(cè)試

參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-27

目的：驗(yàn)證連接器及其組件耐沖擊的能力或評(píng)定其結(jié)構(gòu)是否牢固

測(cè)試波形：半正弦波，方波

（八）冷熱沖擊測(cè)試

參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-32

目的：評(píng)估連接器在急速的大溫差變化下，對(duì)于其功能品質(zhì)的影響

（九）溫濕度組合循環(huán)測(cè)試

參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-31

目的：評(píng)估連接器在經(jīng)過(guò)高溫高濕環(huán)境儲(chǔ)存后對(duì)連接器性能的影響

（十）高溫測(cè)試

參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-17

目的：評(píng)估連接器暴露在高溫環(huán)境中于規(guī)定時(shí)間后端子和絕緣體性能是否發(fā)生變化

（十一）鹽霧測(cè)試

參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-26

目的：評(píng)估連接器，端子，鍍層耐鹽霧腐蝕能力

（十二）混合氣體腐蝕測(cè)試

參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-65

目的：評(píng)估連接器暴露在不同濃度混合氣體中的耐腐蝕能力及對(duì)其性能的影響

（十三）線材搖擺測(cè)試

參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-41